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為確保芯片能可靠的工作,應(yīng)用處理器的上下電通常都要遵循一定時(shí)序,以i.MX6UL應(yīng)用處理器為例,設(shè)計(jì)中就必須要滿足芯片手冊的上電時(shí)序、掉電時(shí)序,否則在產(chǎn)品使用時(shí)可能會出現(xiàn)以下情況,第一,上電階段的電流過大;第二,器件啟動異常;第三,最壞的情況會對處理器造成不可逆的損壞。可見,上下電時(shí)序?qū)τ诖_保系統(tǒng)的可靠運(yùn)行起著重要的作用。以下對i.MX6UL的電源框圖進(jìn)行說明,然后對其上電時(shí)序、掉電時(shí)序電路設(shè)計(jì)進(jìn)行介紹。
一、i.MX6UL上下電時(shí)序要求
上電時(shí)序:
1. VDD_SNVS_IN 必須單獨(dú)或與VDD_HIGH_IN 一起(短接)上電,在這之后其他電源才能上電。
2. 如果使用紐扣電池為VDD_SNVS_IN 供電,請確保在開啟任何其他電源之前將其連接。
3. 應(yīng)在VDD_SOC_IN 之前開啟VDD_HIGH_IN。
掉電時(shí)序:
1. VDD_SNVS_IN 必須單獨(dú)或與VDD_HIGH_IN 一起(短接)下電,在這之前其他電源必須全部完成下電。
2. 如果使用紐扣電池為VDD_SNVS_IN 供電,請確保在關(guān)閉任何其他電源之后將其移除。
二 、i.MX6UL電源管理單元-PMU
三、要點(diǎn)分析
1. 從i.MX6UL電源管理單元圖可知,最先供電的VDD_SNVS_IN管腳是作為內(nèi)部LDO_SNVS的輸入,其輸出電壓VDD_SNVS_CAP是向SNVS模塊及實(shí)時(shí)時(shí)鐘模塊OSC32K供電。 如需在掉電情況下保持RTC,則VDD_SNVS_IN需單獨(dú)進(jìn)行供電,否則可以與VDD_HIGH_IN接一起。VDD_SNVS_IN設(shè)計(jì)中可預(yù)留紐扣電池方案,以滿足掉電保持實(shí)時(shí)時(shí)鐘的應(yīng)用需求,但如果使用紐扣電池為VDD_SNVS_IN 供電,請確保在開啟任何其他電源之前將其連接。
3. 由前面上電時(shí)序可知,VDD_HIGH_IN可與VDD_SNVS_IN電源一起最先上電。在系統(tǒng)需要掉電保持實(shí)時(shí)時(shí)鐘的情況下,由于VDD_HIGH_IN功耗較高,因此在保持實(shí)時(shí)時(shí)鐘的情況下,需要將該兩路電源需要分開處理??衫肧NVS電源域下的控制信號PMIC_ON_REQ使能后上電的電源模塊,以達(dá)到上電的時(shí)序要求,如下圖所示。
4. 由上電時(shí)序可知,VDD_SOC_IN上電時(shí)序要遲于VDD_HIGH_IN,因此在電路設(shè)計(jì)中,可使用VDD_HIGH_IN電源芯片的控制信號使能VDD_SOC_IN的電源,如下圖所示為使用VDD_HIGH_IN供電芯片的PG信號使能VDD_SOC_IN供電芯片的使能管腳。
使用DCDC_3V3_PG控制VDD_SOC_IN電源使能管腳以滿足VDD_HIGH_IN上電先于VDD_SOC_IN的要求,如下圖所示。
5. 根據(jù)掉電時(shí)序要求,掉電優(yōu)先順序只要滿足 VDD_SNVS_IN最后掉電即可。設(shè)計(jì)中加入相應(yīng)的可控掉電電路,可使后級的濾波電容快速放電從而實(shí)現(xiàn)掉電的先后順序,如下圖所示為DCDC_3V3的掉電電路,DCDC_3V3為VDD_HIGH_IN供電。工作原理:系統(tǒng)掉電后,PMIC_ON_REQ由高電平變?yōu)榈碗娖剑瑥亩笵ISCHG_EN信號變?yōu)楦唠娖?,從而使DCDC_3V3電流通過電阻R734及MOS管Q705導(dǎo)通到GND, VDD_SOC_IN電壓通過DISCHG_EN信號控制MOS管Q707快速掉電,如下圖所示。
i.MX6UL上電時(shí)序波形如下圖所示,其中VDD_SOC_IN為內(nèi)核電壓-1.35V。
i.MX6UL掉電時(shí)序波形如下圖所示。
上下電時(shí)序完整波形圖如下圖所示。
M6G2C采用i.MX6UL處理器,滿足芯片手冊嚴(yán)格的上下電時(shí)序,是一款工業(yè)控制核心板,采用 Freescale Cortex-A7 528MHz主頻的處理器,以先進(jìn)的電源管理架構(gòu)帶來更低功耗。標(biāo)配8路UART、2路USB OTG、2路CAN-Bus、2路以太網(wǎng)等接口;標(biāo)配128/256MB DDR3和128/256MB NAND Flash、硬件看門狗;通過嚴(yán)格EMC和高低溫測試,確保核心板在嚴(yán)酷的環(huán)境下穩(wěn)定工作。
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