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?IEMN 結(jié)果顯示 ALLOS 具有超過 1400 V 的擊穿電壓

文章出處:電源 責任編輯:上?,F(xiàn)易電子元器件有限公司 發(fā)表時間:2018-02-06

法國阿斯克新城和德國德累斯頓 - 2018 年 2 月 1 日 - 來自電子、微電子及納米技術(shù)研究院 (IEMN) 的最新結(jié)果顯示,ALLOS 即將推出的適用于 1200 V 器件的硅基氮化鎵外延片產(chǎn)品具有超過 1400 V 的縱向和橫向擊穿電壓。

 

法國 IEMN 研究所的 Farid Medjdoub 博士領(lǐng)導(dǎo)的一支團隊制造出了器件,并在由德國 ALLOS Semiconductors 公司提供的兩款不同的硅基氮化鎵外延片產(chǎn)品上進行了測量。其中之一是 ALLOS 即將推出的專為 1200 V 器件應(yīng)用設(shè)計的產(chǎn)品的原型。IEMN 借助該外延片實現(xiàn)了超過 1400 V 的縱向和 1600 V 的橫向(接地)擊穿電壓。另一款外延片是 ALLOS 針對 600 V 應(yīng)用推出的成熟產(chǎn)品,同樣顯示出非常高的 1200 V 擊穿電壓以及更高的橫向和縱向測量值。

 

適用于 1200 V 器件應(yīng)用的新型外延片產(chǎn)品來自 ALLOS 正在進行的一項內(nèi)部開發(fā)計劃。該產(chǎn)品的強勁性能歸功于一個創(chuàng)新的結(jié)構(gòu),該結(jié)構(gòu)結(jié)合了 ALLOS 的獨特應(yīng)變工程和高晶體質(zhì)量方式,以及用于抑制泄漏和進一步提高擊穿電壓的其他措施。這種強勁性能的實現(xiàn)并未以犧牲晶體質(zhì)量或晶片彎曲度等其他基本參數(shù)為代價,也未引入碳摻雜。

外延生長是在標準 Aixtron G5 MOCVD 反應(yīng)器上進行的。

 

在 2017 年 11 月于北京舉行的國際第三代半導(dǎo)體論壇 (IFWS) 上,ALLOS 展示了使用 ALLOS 600 V 外延片的一位行業(yè)合作伙伴所給出的器件結(jié)果。憑借成熟的器件設(shè)計和針對高達 1000 V 泄漏的測量設(shè)置,實現(xiàn)了 600 V 下 0.003 μA/mm2 和 1000 V 下 0.033 μA/mm2 的值?!拔覀兊暮献骰锇榻o出的這一反饋對我們來說真是好消息,因為這又一次證明了我們在 600 V 應(yīng)用領(lǐng)域的強大技術(shù)實力?!盇LLOS 首席技術(shù)官 Atsushi Nishikawa 博士解釋道,“現(xiàn)在最大的問題是在 1000 V 以上的哪個電壓下會出現(xiàn)物理擊穿,以及我們能否在 1200 V 領(lǐng)域再續(xù)輝煌?!?/p>

 

有了 IEMN 顯示的結(jié)果,現(xiàn)在可以給出答案。它使用了簡化的器件設(shè)計和流程,獲得反饋的速度比工業(yè)流程快了許多。在 ALLOS 針對 1200 V 器件推出的新型外延片產(chǎn)品的原型上,IEMN 實現(xiàn)了超過 1400 V 的縱向和 1600 V 的橫向(接地)擊穿電壓(分別為圖 1 (a) 和 2 (b))。使用浮動測量設(shè)置補充表征產(chǎn)生了接觸距離為 12 μm 時超過 2000 V 的橫向擊穿電壓(圖 1 (c))。對于接觸距離為 4 μm 時擊穿電壓已超過 1100 V 的 7 μm 厚外延堆棧,接觸距離為 12 μm 時出現(xiàn)橫向浮動擊穿電壓飽和(圖 1 (d))。

 

 

來自 IEMN 的 Farid Medjdoub 博士在全面公正地看待這些結(jié)果后,給出了如下解釋: “在基板接地的情況下,ALLOS 外延片可實現(xiàn)超過 1400 V 的縱向和 1600 V 的橫向擊穿

電壓,明顯優(yōu)于我們迄今為止測量的來自各個行業(yè)和研究合作伙伴的所有樣品。此外,我們所看到的結(jié)果表明,器件性能在晶片上非常均勻,這對于實際器件生產(chǎn)是一個非常重要的特性。”

 

在 ALLOS 的 600 V 外延片產(chǎn)品上,IEMN 實現(xiàn)了 1200 V 的縱向和 1500 V 的橫向(接地)擊穿電壓。這兩種外延片產(chǎn)品都沒有摻雜碳。碳常被硅基氮化鎵制造商用來增強分離效果,但對晶體質(zhì)量和動態(tài)轉(zhuǎn)換行為有負面影響。這兩種產(chǎn)品均可提供 150 mm 晶片直徑對應(yīng)的 675 μm 厚度以及 200 mm 晶片直徑對應(yīng)的 725 μm 厚度。所有 ALLOS 外延片產(chǎn)品的彎曲度都被嚴格控制在 30 μm 以下。

 

“現(xiàn)有的結(jié)果表明,我們已經(jīng)達到了橫向 1.7 MV/cm 和縱向 2 MV/cm 的水平,我們還有一項旨在實現(xiàn)外延片級別進一步改進的計劃?,F(xiàn)在是時候與 1200 V 產(chǎn)品系列的工業(yè)合作伙伴建立強大的合作伙伴關(guān)系了?!?ALLOS 首席執(zhí)行官 Burkhard Slischka 說道?!坝捎谖覀兪且患壹兇獾耐庋悠夹g(shù)提供商,沒有自己的器件制造業(yè)務(wù),因而我們正在尋求與經(jīng)驗豐富的電力電子企業(yè)密切合作,以利用其基于硅基氮化鎵的 1200 V 應(yīng)用帶來的機會。憑借我們的技術(shù),硅基氮化鎵具備與碳化硅性能相媲美的潛力,而成本僅為晶片成本的一小部分?!?/p>


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